在航天工業(yè)中,三維掃描技術(shù)已經(jīng)成為設(shè)計與制造過程中不可或缺的一部分,特別是在處理模擬衛(wèi)星天線反射面時。其主要優(yōu)勢體現(xiàn)在:
輔助設(shè)計與制造:快速準(zhǔn)確地獲取模擬衛(wèi)星天線的反射面尺寸和形狀數(shù)據(jù),有助于工程師精細(xì)設(shè)計配套組件,提高整體性能。
質(zhì)量檢測:在生產(chǎn)過程中,通過將實(shí)際掃描結(jié)果與設(shè)計模型對比分析,能夠迅速識別出形狀或尺寸上的偏差,并據(jù)此調(diào)整生產(chǎn)工藝,確保模擬產(chǎn)品質(zhì)量。此外,還能有效評估表面狀況,識別可能存在的缺陷并提供修復(fù)依據(jù)。